JTAG (Joint Test Action Group)

JTAG（Joint Test Action Group）為一邊界掃瞄測試的發展規格，於1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990被標準化。在1994年，增加掃瞄描述語言(BSDL)補充內容，描述與EEE Std 1149.1相容掃瞄邏輯內容。從此這個標準被適用於全世界子元件公司。現今邊界掃瞄與大多數JTAG相同。