JTAG (Joint Test Action Group)

Steht für "Joint Test Action Group" und bezeichnet normalerweise den IEEE-Standard 1149.1, der ein Verfahren zum Testen und Debugging von elektronischer Hardware beschreibt. Die JTAG entstand durch einen Zusammenschluss von Halbleiterherstellern im Jahre 1985/86. Es wurde ein Standard erarbeitet, welcher in der Norm IEEE 1149.1-1990 festgehalten ist. Das Verfahren ist auch unter dem Namen Boundary Scan Test bekannt.