JTAG (Joint Test Action Group)

JTAG（Joint Test Action Group）为一边界扫瞄测试的发展规格，于1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990被标准化。在1994年，增加扫瞄描述语言(BSDL)补充内容，描述与EEE Std 1149.1兼容扫瞄逻辑内容。从此这个标准被适用于全世界子组件公司。现今边界扫瞄与大多数JTAG相同。